詳細(xì)摘要: 測(cè)試項(xiàng)目:陰極發(fā)光(CL)成像測(cè)試對(duì)象:鋯石等單礦物鑲嵌靶、礦物薄片測(cè)試周期:5-10個(gè)工作日送樣要求:靶表面光滑無(wú)劃痕,排列整齊
產(chǎn)品型號(hào):所在地:更新時(shí)間:2021-11-25 在線留言
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詳細(xì)摘要: 測(cè)試項(xiàng)目:陰極發(fā)光(CL)成像測(cè)試對(duì)象:鋯石等單礦物鑲嵌靶、礦物薄片測(cè)試周期:5-10個(gè)工作日送樣要求:靶表面光滑無(wú)劃痕,排列整齊
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